DOI: http://dx.doi.org/10.18257/raccefyn.516

Artículo original

Propiedades electrónicas y estructurales del Ga1-xCrxAs

Nasly Y. Martínez Velásquez, Jairo Arbey Rodríguez Martínez

Resumen


Mediante el uso de principios basados en la teoría del funcional de la densidad - DFT (Density Functional Theory) se calcularon las propiedades electrónicas y estructurales del compuesto Ga1-xCrxAs. Empleando el método de ondas planas y la aproximación de pseudopotenciales atómicos ultra suaves se resolvieron las ecuaciones de Kohn-Sham. Para la energía de intercambio y correlación se empleó la aproximación de gradiente generalizado, dentro de la parametrización de Perdew-Burke-Ernzerhof (PBE) tal como está implementada en el código computacional Quantum-Espresso. Al dopar GaAs con impurezas de Cr, el sistema exhibe un comportamiento tipo half-metallic. Dicho material puede ser usado en espintrónica. © 2018. Acad. Colomb. Cienc. Ex. Fis. Nat.

Palabras clave


Propiedades electrónicas; DFT; QE; Ga1-xCrxAs

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